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周慧梅

作品数:13 被引量:21H指数:2
供职机构:南京大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家高技术研究发展计划国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信理学更多>>

文献类型

  • 12篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 10篇电子电信
  • 4篇理学

主题

  • 7篇异质结
  • 7篇XGA
  • 6篇X
  • 3篇二维电子
  • 3篇二维电子气
  • 3篇SUB
  • 3篇GAN
  • 3篇GAN异质结...
  • 2篇氮化
  • 2篇氮化物
  • 2篇调制掺杂
  • 2篇压电极化
  • 2篇势垒
  • 2篇输运
  • 2篇铁电
  • 2篇铁电薄膜
  • 2篇欧姆接触
  • 2篇肖特基
  • 2篇晶体管
  • 2篇化物

机构

  • 13篇南京大学
  • 2篇中国科学院
  • 1篇南京电子器件...
  • 1篇中华人民共和...

作者

  • 13篇周慧梅
  • 12篇沈波
  • 11篇张荣
  • 11篇刘杰
  • 11篇郑有炓
  • 9篇周玉刚
  • 7篇郑泽伟
  • 7篇施毅
  • 4篇俞慧强
  • 4篇施毅
  • 2篇李卫平
  • 2篇焦刚
  • 2篇陈堂胜
  • 2篇郭少令
  • 2篇毕朝霞
  • 2篇郑国珍
  • 2篇刘治国
  • 2篇褚君浩
  • 2篇蒋春萍
  • 1篇陈敦军

传媒

  • 6篇发光学报
  • 3篇Journa...
  • 1篇物理学报
  • 1篇稀有金属
  • 1篇固体电子学研...

年份

  • 2篇2004
  • 1篇2003
  • 2篇2002
  • 8篇2001
13 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
金属/n型AlGaN欧姆接触被引量:12
2002年
用传输线模型对 n型 Al Ga N(n- Al Ga N)上 Au/ Pt/ Al/ Ti多金属层欧姆接触进行了接触电阻率的测量 .在85 0℃退火 5 min后 ,测得欧姆接触电阻率达 1.6× 10 - 4Ω· cm2 .经 X射线衍射分析 ,Au/ Pt/ Al/ Ti/ n- Al Ga N界面固相反应得出在 5 0 0℃以上退火过程中 ,Al Ga N层中 N原子向外扩散 ,在 Al Ga N表面附近形成 n型重掺杂层 ,导致欧姆接触电阻率下降 ;随退火温度的升高 ,N原子外扩散加剧 ,到 80 0℃以上退火在 Au/ Pt/ Al/ Ti/ n- Al Ga N界面形成 Ti2 N相 。
周慧梅沈波周玉刚刘杰郑泽伟钱悦张荣施毅郑有炓曹春海焦刚陈堂胜
关键词:欧姆接触界面固相反应金属
调制掺杂Al_xGa_(1-x)N/GaN异质结中Al_xGa_(1-x)N势垒层表面态及其他局域态性质研究
2003年
通过测量调制掺杂Al0 2 2 Ga0 78N/GaN异质结样品的变频电容 电压 (C V)特性 ,对Al0 2 2 Ga0 78N势垒层表面态的性质进行了研究 .结果发现在小偏压下 ,样品的电容随着测量信号频率的增加而下降 ,说明势垒层中存在表面态 .实验数据分析表明 :表面态密度约为 10 13 cm-2 量级 ,表面态的时间常数比势垒层中其他局域态大 .随着空间隔离层厚度的增加 ,势垒层中其他局域态密度随之增加 .在金属电极和Al0 2 2 Ga0 78N势垒层之间加入Si3 N4绝缘层可以对表面态起到显著的钝化作用 ,使表面态密度降为~ 10 12 cm-2
刘杰沈波周玉刚周慧梅郑泽伟张荣施毅郑有炓
关键词:势垒层表面态
Pb(Zr_(0.53)Ti_(0.47))O_3/Al_xGa_(1-x)N/GaN异质结构的电容-电压特征(英文)
2001年
通过在调制掺杂Al0 2 2 Ga0 78N/GaN异质结构上淀积Pb(Zr0 53 Ti0 4 7)O3 (PZT)铁电薄膜 ,我们发展了一种基于AlxGa1-xN/GaN异质结构的金属 铁电 半导体 (MFS)结构。在高频电容 电压 (C V)特性测量中 ,发现Al0 2 2 Ga0 78N/GaN异质界面二维电子气 ( 2DEG)的浓度在 -1 0V偏压下从 1 5 6× 1 0 13 cm-2 下降为 5 6× 1 0 12 cm-2 。由于PZT薄膜的铁电极化 ,在 -1 0V偏压下可以观察到宽度为 0 2V的铁电C V窗口 ,表明在没有铁电极化方向反转的条件下 ,PZT/AlxGa1-xN/GaNMFS结构也能出现存储特性。因为 2DEG带来的各种优点 ,可以认为AlxGa1-xN/GaN异质结构在以存储器为目标的MFS场效应晶体管中有重要应用。
沈波李卫平周玉刚毕朝霞张荣郑泽伟刘杰周慧梅施毅刘治国郑有炓Someya TArakawa Y
关键词:C-V特性铁电薄膜ALXGA1-XN/GAN
电容-电压法研究Al_xGa_(1-x)N/GaN异质结压电极化效应(英文)被引量:1
2001年
制备了基于调制掺杂Al0 2 2 Ga0 78N/GaN异质结的Pt/Al0 2 2 Ga0 78N/GaN肖特基二极管。由于Al0 2 2Ga0 78N势垒层中的极化场不同 ,不同Al0 2 2 Ga0 78N势垒层厚度的二极管的电容 电压特性显著不同。根据对样品电容 电压特性的数值模拟 ,在Al0 2 2 Ga0 78N势垒层厚度为 30nm和 4 5nm的样品中 ,异质界面的极化电荷面密度为 6 78× 1 0 12 cm-2 。在Al0 2 2 Ga0 78N势垒层厚度为 75nm的样品中 ,极化电荷面密度降为 1 30×10 12 cm-2 。这种极化电荷面密度的降低是由于GaN上Al0 2 2 Ga0 78N势垒层由于厚度增加而产生应变的部分弛豫。本工作也提供了一种定量表征AlxGa1-xN/GaN异质结中极化电荷面密度的方法。
俞慧强沈波周玉刚张荣刘杰周慧梅施毅郑有炓Someya TArakawa Y
关键词:压电极化异质结
Pb(Zr<sub>0.53</sub>Ti<sub>0.47</sub>)O<sub>3</sub>/Al<sub>x</sub>Ga<sub>1-x</sub>N/GaN异质结构的电容-电压特征(英文)被引量:1
2001年
通过在调制掺杂Al0 2 2 Ga0 78N/GaN异质结构上淀积Pb(Zr0 53 Ti0 4 7)O3 (PZT)铁电薄膜 ,我们发展了一种基于AlxGa1-xN/GaN异质结构的金属 铁电 半导体 (MFS)结构。在高频电容 电压 (C V)特性测量中 ,发现Al0 2 2 Ga0 78N/GaN异质界面二维电子气 ( 2DEG)的浓度在 -1 0V偏压下从 1 5 6× 1 0 13 cm-2 下降为 5 6× 1 0 12 cm-2 。由于PZT薄膜的铁电极化 ,在 -1 0V偏压下可以观察到宽度为 0 2V的铁电C V窗口 ,表明在没有铁电极化方向反转的条件下 ,PZT/AlxGa1-xN/GaNMFS结构也能出现存储特性。因为 2DEG带来的各种优点 ,可以认为AlxGa1-xN/GaN异质结构在以存储器为目标的MFS场效应晶体管中有重要应用。
沈波李卫平周玉刚毕朝霞张荣郑泽伟刘杰周慧梅施毅刘治国郑有炓Someya TArakawa Y
关键词:C-V特性铁电薄膜ALXGA1-XN/GAN
电容-电压法研究Al<sub>x</sub>Ga<sub>1-x</sub>N/GaN异质结压电极化效应(英文)
2001年
制备了基于调制掺杂Al0 2 2 Ga0 78N/GaN异质结的Pt/Al0 2 2 Ga0 78N/GaN肖特基二极管。由于Al0 2 2Ga0 78N势垒层中的极化场不同 ,不同Al0 2 2 Ga0 78N势垒层厚度的二极管的电容 电压特性显著不同。根据对样品电容 电压特性的数值模拟 ,在Al0 2 2 Ga0 78N势垒层厚度为 30nm和 4 5nm的样品中 ,异质界面的极化电荷面密度为 6 78× 1 0 12 cm-2 。在Al0 2 2 Ga0 78N势垒层厚度为 75nm的样品中 ,极化电荷面密度降为 1 30×10 12 cm-2 。这种极化电荷面密度的降低是由于GaN上Al0 2 2 Ga0 78N势垒层由于厚度增加而产生应变的部分弛豫。本工作也提供了一种定量表征AlxGa1-xN/GaN异质结中极化电荷面密度的方法。
俞慧强沈波周玉刚张荣刘杰周慧梅施毅郑有炓Someya TArakawa Y
关键词:压电极化异质结
Al<sub>x</sub>Ga<sub>1-x</sub>N/GaN异质结二维电子气磁输运性质研究(英文)
2001年
在 1 5K低温和 0~ 9T的高磁场下研究了AlGaG/GaN异质结二维电子气的磁输运性质。实验结果在 4块样品中都观察到了Shubnikov daHass振荡的双周期行为。表明异质结的三角势阱中有两个子带被电子占据。通过电子子带占据时电子浓度分配的线形行为得到第二子带被占据的阈值浓度为 7 2× 1 0 12 cm-2 。通过对不同样品量子散射时间和输运迁移率的研究 ,说明在 1 5K下远程离化施主散射在量子散射时间中起主要作用。
郑泽伟沈波刘杰周慧梅钱悦张荣施毅郑有炓蒋春萍郭少令郑国珍褚君浩Someya TArakawa Y
关键词:二维电子气
Al<,x>Ga<,1-x>N/GaN异质结构的欧姆接触和界面特性研究
GaN及其合金构成的Ⅲ族氮化物宽带隙半导体材料(WBS)具有禁带宽度大、击穿场强高、热导率大、电子饱和漂移速度高、抗辐照能力强、化学稳定性好等优越特性,使其在光电器件、高频大功率器件、高温电子器件等方面倍受青睐。AlxG...
周慧梅
关键词:半导体材料场效应晶体管欧姆接触
文献传递
Al_xGa_(1-x)N/GaN异质结二维电子气磁输运性质研究(英文)
2001年
在 1 5K低温和 0~ 9T的高磁场下研究了AlGaG/GaN异质结二维电子气的磁输运性质。实验结果在 4块样品中都观察到了Shubnikov daHass振荡的双周期行为。表明异质结的三角势阱中有两个子带被电子占据。通过电子子带占据时电子浓度分配的线形行为得到第二子带被占据的阈值浓度为 7 2× 1 0 12 cm-2 。通过对不同样品量子散射时间和输运迁移率的研究 ,说明在 1 5K下远程离化施主散射在量子散射时间中起主要作用。
郑泽伟沈波刘杰周慧梅钱悦张荣施毅郑有火斗蒋春萍郭少令郑国珍褚君浩Someya TArakawa Y
关键词:二维电子气
调制掺杂AlGaN/GaN异质结上的Pt肖特基接触
2002年
研究了调制掺杂 Alx Ga1 - x N/Ga N表面 Pt肖特基接触的制备工艺 ,并对其进行了 I-V测量。通过改变对样品表面的处理工艺 ,研究了表面处理对调制掺杂 Alx Ga1 - x N/Ga N表面 Pt肖特基结接触特性的影响 ,在 n型掺杂浓度为 7.5× 1 0 1 7cm- 3的 Al0 .2 2 Ga0 .78N样品表面 ,制备得到了势垒高度为 0 .94e V、理想因子为 1 .4的 Pt肖特基接触。这与国外报道的结果接近 (=1 .2 e V,n=1 .1 1 [1 ] )
刘杰沈波周玉刚周慧梅郑泽伟张荣施毅郑有炓
关键词:调制掺杂ALGAN/GAN异质结肖特基接触表面处理
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