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文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇科技成果

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇信号
  • 1篇扫描测试
  • 1篇适配
  • 1篇适配器
  • 1篇数字电路
  • 1篇自动测试系统
  • 1篇总线
  • 1篇扩展型
  • 1篇雷达
  • 1篇机箱
  • 1篇红外
  • 1篇红外分析
  • 1篇边界扫描测试
  • 1篇边界扫描测试...
  • 1篇PXI总线
  • 1篇测试技术
  • 1篇测试系统
  • 1篇测试信号
  • 1篇测试装置

机构

  • 3篇中国电子科技...

作者

  • 3篇刘军
  • 2篇杨志谦
  • 1篇夏勇
  • 1篇尤路
  • 1篇方东
  • 1篇汪在华
  • 1篇宋先红
  • 1篇盛永鑫
  • 1篇张卿
  • 1篇李正东
  • 1篇李粉兵
  • 1篇王凤驰
  • 1篇段晓超
  • 1篇卢德辉
  • 1篇张浩
  • 1篇季飞
  • 1篇谢庭波

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2013
  • 1篇2012
5 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
一种基于PXI总线的通用开放式集成测试装置
本实用新型提供一种基于PXI总线的通用开放式集成测试装置,包括集成测试机箱(1)、适配板接口(2)、BST边界扫描模块(5)、ATEasy模块(6)、热红外分析模块(7)、PCT模块(8)、PCT SRIO模块(9)和L...
王凤驰李正东李粉兵谢庭波刘军
文献传递
一种可扩展型边界扫描测试系统
本实用新型属于电子设备的边界扫描测试技术领域,具体涉及一种可扩展型边界扫描测试系统。本测试系统包括电源、发出测试指令和接收测试结果的测试计算机、用于接收测试指令并产生JTAG测试向量的JTAG控制器,还包括用于扩大被测件...
尤路刘军夏勇张卿杨志谦
文献传递
雷达可更换单元自动测试系统
杨志谦卢德辉段晓超汪在华刘军宋先红方东盛永鑫张浩季飞
项目概况:该项目属于自动化测试领域,研究的是一种先进的多种模块通用测试系统。自动测试系统已成为电子装备研制、生产、测试和维修过程中必不可少的重要装备。采用先进的自动测试技术,能够使电子装备的维修测试效率提高10倍以上,故...
关键词:
关键词:雷达适配器
共1页<1>
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