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陈昭宪

作品数：20 被引量：19H指数：2
供职机构：电子部更多>>
相关领域：电子电信电气工程理学一般工业技术更多>>

文献类型

  • 18篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 14篇电子电信
  • 4篇电气工程
  • 3篇理学
  • 1篇经济管理
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 12篇可靠性
  • 8篇电子元
  • 8篇电子元器件
  • 8篇元器件
  • 3篇AMSAA模...
  • 2篇电真空
  • 2篇电真空器件
  • 2篇电子产品
  • 2篇电子设备
  • 2篇真空
  • 2篇真空器件
  • 2篇军用
  • 1篇电路
  • 1篇电子产品可靠...
  • 1篇电子工业
  • 1篇电子组件
  • 1篇失效模式
  • 1篇数据分析
  • 1篇数据库
  • 1篇子产

机构

  • 12篇电子部
  • 8篇中国赛宝实验...

作者

  • 20篇陈昭宪

传媒

  • 18篇电子产品可靠...
  • 1篇中国电子学会...
  • 1篇中国电子学会...

年份

  • 1篇1997
  • 5篇1996
  • 6篇1995
  • 6篇1994
  • 1篇1987
  • 1篇1985
共 20 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
元器件增长的信息跟踪及数据分析
1996年
在对产品进行“试验、分析与纠正”的过程中,每一项成功的纠正措施都会降低产品的废品率。产品废品率与其故障率之间有一定的内在联系。产品废品率反映了产品在某时刻的质量状况;产品故障率则反映了产品在某一时间区间内的质量状况。若记P为产品的废品率;记λ为产品的故障率,当产品母体服从指数分布时。
陈昭宪
关键词：电子元器件数据分析
鉴别寿命分布类型的树叶图法
在拟合检验、图估法、STTTT法的基础上，提出了一种鉴别分布类型和估计参数的新方法——树叶图法。利用这种方法，只需将观测样本的正则化失效累积间隔和正则化失效对数累积间隔，在树叶图上描点，就可以在指数分布、正态分布、对数正...
陈昭宪
关键词：可靠性物理学概率分布电子产品可靠性
消除失效模式的可靠性增长方式被引量：1
1996年
在各项可靠性试验中,电子元器件的失效模式不一定是单一的,有时经常有好几种失效模式同时存在.这时候就需要抓住主要矛盾,采取“各个击破”的方式来逐步地提高产品的可靠性。某集成电路原来存在有五种主要失效模式,如图1所示,其中“芯片键合引起的失效占总失效数的45％。针对这种失效模式,在工艺上采取纠正措施,用铝—铝超声焊代替金—铝热压焊,并增加磷处理工序后,芯片键合点的失效模式已全部消失,可靠性水平得到了提高.而在产品可靠性的新台阶上,第二种失效模式“
陈昭宪
关键词：可靠性电子元器件集成电路失效模式
电子元器件的可靠性增长
1995年
用于修复型产品的可靠性管理技术,也适用于不修复的寿命型产品,但对这类产品进行增长管理时,必须注意如下特点.a.这类产品的可靠性指标是失效率或MTTF等;b.这类产品通常都是批量生产的,它们的增长模型一般应采用离散型增长模型;c.对于这类产品一般应采取延缓纠正方式;
陈昭宪
关键词：电子元器件电子工业
可靠性数据库的构成及其功能
陈昭宪严玉兴杨仲森
关键词：可靠性管理数据库
AMSAA模型的增长分析被引量：5
1995年
AMSAA模型是杜安模型的改进型.杜安模型没有考虑数据的散布特性,1974年L.H.Crow指正,在区间(o,t]内系统的故障数N (t)服从的均值函数即数学期望为;E [N(t)]=at^b式中.N(t)为观察到的累积故障数,a为尺度参数,b为增长形状参数.在可靠性增长试验中,通过增长分析可以得到增长参数a和b的估计值.从而及时掌握产品当前的可靠性水平和预测未来的可靠性.并监控产品可靠性的增长速率.可靠性增长分析的主要内容有增长趋势分析、增长参数估计以及拟合优度检验等.
陈昭宪
关键词：AMSAA模型电子设备可靠性
AMSAA模型的补充说明
1995年
1 增长趋势检验的其它方法 1.1 故障数据符合AMSAA模型时的趋势检验 前述的μ检验法适用于故障数据不符合AMSAA模型时的趋势检验;当故障数据符合AMSAA模型时,可按下列步骤进行趋势检验。
陈昭宪
关键词：AMSAA模型电子设备可靠性
电子元器件的可靠性增长方式被引量：1
1996年
电子元器件通常都是批量生产的,所以它们的增长过程一般是分阶段或按试验序列而逐步进行的.对它们进行增长分析时,通常应该采用离散型的增长模型。工程实践上,电子元器件的可靠性增长,可以采取试验比较法、消除失效模法以及阶段序列增长法等各种方式.试验比较法需要通过前后两次试验来分析产品的增长效果。第一次试验的目的,是要掌握产品的可靠性现状,摸清产品的存在问题;第二次试验的目的,则是要验证纠正措施的有效性,并检验其增长效果。
陈昭宪
关键词：电子元器件可靠性
指数分布阶段增长模型
1997年
陈昭宪
关键词：可靠性电子产品
可靠性增长的延缓预测模型
1995年
可靠性增长的延缓预测值,是指在采取延缓纠正措施后,产品在下一试验段开始时的可靠性值。计算产品延缓纠正预测值时,需要将已出现的各类故障区分为A类或B类;假定B类故障共有m种,还应该进一步指出每一种B类故障出现的次数k_i和每一种B类故障的纠正有效性系数d_i以及各种B类故障的首次出现时间等等。 在已知每一种B类故障的纠正有效性系数d_i的情况下,可按下列模型来预测产品在下一试验段开始时的可靠性值。 λ_P(T)=1/T[K_A+sum from i=1 to m(K_i(1-d_i)+ mbd)] θ_P(T)=[λ_P(T)]^(-1)式中,T为试验的截尾时间,K_A为A类故障数,m为B类故障的种类数,K_i为第i种B类故障的个数。
陈昭宪
关键词：电子组件
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共2页<12>
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