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翟梓融

作品数：23 被引量：0H指数：0
供职机构：通用电气公司更多>>
相关领域：自动化与计算机技术金属学及工艺文化科学更多>>

合作作者

文献类型

  • 23篇中文专利

领域

  • 2篇金属学及工艺
  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇文化科学

主题

  • 7篇锻造
  • 7篇增材制造
  • 7篇光学
  • 6篇能量源
  • 5篇熔覆
  • 5篇熔覆层
  • 5篇覆层
  • 4篇双折射
  • 4篇偏振
  • 4篇偏振光
  • 4篇激光
  • 3篇外部电路
  • 3篇面粗糙度
  • 3篇反射镜
  • 3篇表面粗糙度
  • 3篇粗糙度
  • 2篇导航
  • 2篇导航功能
  • 2篇调制
  • 2篇形变

机构

  • 23篇通用电气公司

作者

  • 23篇翟梓融
  • 10篇宋桂菊
  • 8篇韩杰
  • 8篇贾明
  • 8篇谢广平
  • 7篇武颖娜
  • 7篇杨勇
  • 6篇杨东民
  • 6篇顾嘉俊
  • 5篇吴勇
  • 5篇昌海
  • 4篇魏斌
  • 4篇陶立
  • 2篇陈晓宾
  • 2篇詹移民
  • 1篇孙海燕

年份

  • 3篇2022
  • 2篇2021
  • 1篇2020
  • 5篇2019
  • 4篇2018
  • 1篇2016
  • 3篇2015
  • 2篇2014
  • 1篇2013
  • 1篇2012
共 23 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
锻造头、锻造装置以及增材制造系统
一种用于增材制造的锻造头，其特征在于，其包括基部和锻造部。所述锻造部从所述基部一端向下延伸，用于在增材制造形成熔覆层的过程中作用于所述熔覆层。所述锻造头还包括贯穿所述基部和所述锻造部的通孔，用于在形成所述熔覆层的过程中让...
昌海钟大龙武颖娜吴勇翟梓融王一枫
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增材制造系统及增材制造方法
一种增材制造系统，其特征在于，包括能量源装置和锻造装置。所述能量源装置用来提供第一能量束和第二能量束。所述锻造装置包括锻造头。所述第一能量束和基底可彼此相对移动用于熔融至少一部分添加至所述基底表面的打印材料以形成熔覆层。...
钟大龙魏斌武颖娜吴勇翟梓融昌海L·T·拉希
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一种用于增材制造的温度控制系统和方法
本发明涉及增材制造的温度控制系统和方法。该温度控制系统包括：熔覆装置，用来将材料熔化并形成熔覆层，该熔覆装置包括第一能量源，设置来使能量束指向材料，以将至少部分材料熔化以形成熔覆层；微锻装置，耦接到熔覆装置来对熔覆层进行...
吴勇昌海王一枫翟梓融钟大龙武颖娜詹移民
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表面粗糙度测量装置
本发明涉及一种表面粗糙度测量装置，该装置包括含有一根主发射光纤及若干收集光纤的光纤束、一根副发射光纤、一个用于容置该光纤束及副发射光纤且开设有接触待测物体的测量口的光学腔、容置于光学腔内的主副反射镜、及外部电路。该主反射...
谢广平贾明翟梓融保罗.查劳瑞凯文.G.哈丁宋桂菊
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检测系统和方法
本发明涉及一种用于检测旋转电机中的定子端部绕组的检测系统和方法。该检测系统包括用于产生光线的光源、复数个光纤束、成像装置、光学单元及处理装置。该复数个光纤束中的每一个光纤束包括复数个照明光纤和复数个成像光纤，所述照明光纤...
杨勇谢广平宋桂菊翟梓融贾明孙海燕丹尼尔.L.班洛维兹
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辐射成像系统及其控制方法
一种辐射成像系统包括辐射源，其位于所述检测目标的第一侧且用于发射多个射线；和探测器，其位于所述检测目标的第二侧且用于检测来自所述辐射源的多个射线。所述辐射成像系统还包括第一传感器，其位于所述检测目标的第一侧且用于获取所述...
J·E·特卡茨克潘锋顾嘉俊翟梓融
增材制造系统及增材制造方法
一种增材制造系统，其特征在于，包括能量源装置和锻造装置。所述能量源装置用来提供第一能量束和第二能量束。所述锻造装置包括锻造头。所述第一能量束和基底可彼此相对移动用于熔融至少一部分添加至所述基底表面的打印材料以形成熔覆层。...
钟大龙魏斌武颖娜吴勇翟梓融昌海L·T·拉希
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激光能量管理装置和方法，增材制造系统
一种激光能量管理装置包括：分光装置、至少一个微弯装置和控制器。所述分光装置用于将来自激光发生器的输入激光束分成多个激光分束，且其包括用于分别传输所述多个激光分束的多个分光传输通道。所述至少一个微弯装置用于使所述多个分光传...
杨勇贾明谢广平翟梓融
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光学成像系统和方法以及孔径光阑组合和孔径元件
本发明涉及一种光学成像系统和方法以及孔径光阑组合和孔径元件，该光学成像系统包括双折射元件，用于将非偏振光以不同的折射率分解成一第一线偏振光及一第二线偏振光，以分别形成该光学成像系统的第一焦距模式及第二焦距模式；旋光元件，...
凯文.G.哈丁宋桂菊陶立杨东民韩杰翟梓融
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光学系统和光学检测装置以及检测方法
本发明揭示一种光学系统和光学检测装置以及检测方法。该光学系统用于以视觉方式对待测对象进行检测，该待测对象的位置相对于光学系统可以变化。该光学系统包括将从待测对象反射的或者散射的入射光线转换成线性偏振光的偏光元件，在控制信...
陶立宋桂菊凯文.G.哈丁杨东民翟梓融韩杰吉尔.阿布拉莫维奇
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