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邓柏寒

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院上海光学精密机械研究所更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇中文专利

主题

  • 4篇锁相放大
  • 4篇锁相放大器
  • 4篇起偏器
  • 4篇计算机
  • 3篇计算机组成
  • 3篇光源
  • 2篇扫描测量
  • 2篇探测器
  • 2篇线性双折射
  • 2篇光电
  • 2篇光电探测
  • 2篇光电探测器
  • 2篇测量方法
  • 1篇控制器

机构

  • 4篇中国科学院上...

作者

  • 4篇刘龙海
  • 4篇邓柏寒
  • 4篇曾爱军
  • 4篇黄惠杰
  • 4篇朱玲琳

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 2篇2013
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法
一种四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法，该装置由准直光源、圆起偏器、光弹调制器、圆检偏器、光电探测器、光弹控制器、锁相放大器和计算机组成。本发明只需一个光弹调制器即可测量四分之一波片的相位延迟量，只需要一个锁相放...
曾爱军邓柏寒刘龙海朱玲琳黄惠杰
文献传递
线性双折射测量装置和测量方法
一种线性双折射测量装置与方法，该装置包括光源模块和测量模块，光源模块由准直光源、起偏器、光弹调制器、光弹控制器和一维光栅组成，测量模块由两个检偏器、两个光电探测器、两个锁相放大器和计算机组成。本发明光源模块和测量模块位于...
曾爱军刘龙海邓柏寒朱玲琳黄惠杰
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四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法
一种四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法，该装置由准直光源、圆起偏器、光弹调制器、圆检偏器、光电探测器、光弹控制器、锁相放大器和计算机组成。本发明只需一个光弹调制器即可测量四分之一波片的相位延迟量，只需要一个锁相放...
曾爱军邓柏寒刘龙海朱玲琳黄惠杰
文献传递
线性双折射测量装置和测量方法
一种线性双折射测量装置与方法，该装置包括光源模块和测量模块，光源模块由准直光源、起偏器、光弹调制器、光弹控制器和一维光栅组成，测量模块由两个检偏器、两个光电探测器、两个锁相放大器和计算机组成。本发明光源模块和测量模块位于...
曾爱军刘龙海邓柏寒朱玲琳黄惠杰
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