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白小龙

作品数：26 被引量：5H指数：1
供职机构：浙江大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金国家留学基金浙江省科技计划项目更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信经济管理理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 18篇专利
  • 4篇学位论文
  • 3篇科技成果
  • 1篇会议论文

领域

  • 4篇电子电信
  • 4篇自动化与计算...
  • 3篇经济管理
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 6篇超声波
  • 5篇薄层
  • 5篇超声
  • 4篇声阻抗
  • 4篇同时测量
  • 4篇图像
  • 4篇回波
  • 4篇反射系数
  • 3篇电机
  • 3篇电机驱动
  • 3篇电机驱动模块
  • 3篇电路
  • 3篇多参数测量
  • 3篇知识转移
  • 3篇探头
  • 3篇企业
  • 3篇企业间
  • 3篇企业间知识转...
  • 3篇嵌入式
  • 3篇嵌入式控制

机构

  • 26篇浙江大学

作者

  • 26篇白小龙
  • 21篇居冰峰
  • 12篇孙安玉
  • 8篇陈剑
  • 7篇吴蕾
  • 7篇姜燕
  • 4篇张威
  • 3篇袁巨龙
  • 3篇陈远流
  • 3篇杨克己
  • 3篇黄元
  • 2篇朱吴乐
  • 2篇葛耀峥
  • 2篇雷勇
  • 1篇武建伟
  • 1篇张云龙
  • 1篇王琪赟
  • 1篇张建刚

年份

  • 1篇2016
  • 4篇2015
  • 7篇2014
  • 5篇2013
  • 3篇2012
  • 2篇2011
  • 2篇2010
  • 1篇2009
  • 1篇1900
共 26 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
一种用于薄层材料定征的小型超声测量系统
本发明公开了一种用于薄层材料定征的小型超声测量系统。本发明包括管式结构的探头装置、微型水泵、医用水槽和主控系统。微型水泵通过软管与医用水槽相连接；微型水泵的泵出口通过软管与管式结构的探头装置中的耦合剂管路接口相连；管式结...
居冰峰孙安玉杜慧林白小龙孙泽青黄元
文献传递
一种扫描超声波显微镜自动对焦方法
本发明公开了一种扫描超声波显微镜自动对焦的方法，其步骤包括：1)根据对焦公式计算，大致确定Z轴电机的位置；2)捕获所需显示层面的超声波回波信号峰值，设定标志位，初值为0；3)令Z轴电机朝某一方向微动，再取一次回波信号峰值...
居冰峰白小龙吴蕾
文献传递
一种扫描超声波显微镜同时进行多层扫描成像的方法
本发明公开了一种扫描超声波显微镜同时进行多层扫描成像的方法。它的步骤如下：1）扫描超声波显微镜开机后，移动Z轴电机，使超声波聚焦探头的焦斑处于被测材料的所关注深度范围的中间位置，得到一幅A扫描图像；2）把该A扫描图像放大...
居冰峰白小龙姜燕陈剑
一种基于双轴联动的扫描超声波显微镜快速扫描方法
本发明公开了一种基于双轴联动的扫描超声波显微镜快速扫描方法。其步骤包括：1）设定扫描面积<I>S</I>=(<I>N·a</I>)×(<I>N·a</I>)后，将<I>L</I><Sub><I>scan</I></Sub...
居冰峰白小龙孙安玉张威姜燕吴蕾
扫描超声波显微镜同时测量薄层材料机械特性参数的方法
本发明公开了一种扫描超声波显微镜同时测量薄层材料机械特性参数的方法。其步骤包括：1)将薄层材料放置于基体材料表面，使超声波探头分别位于基体材料和薄层材料正上方，令超声波探头作上下运动并测得基体材料和薄层材料的超声波回波信...
居冰峰白小龙孙泽青陈剑
文献传递
高科技产业集群内企业间知识转移影响因素研究--以浙大科技园企业为例
白小龙
关键词：高科技产业集群企业间知识转移影响因素
微纳器件多参数一体化精密测量技术、装备及其应用
居冰峰杨克己袁巨龙陈远流白小龙孙安玉
该成果受到基于在线测量的三维微纳结构超精密加工现场质量控制关键技技术研究,国家高技术研究发展计划("863"计划,编号:2009AA04Z168)、大面积、高深宽比微纳结构(HARMS)的超精密在线测量基础技术研究,国家...
关键词：
关键词：大规模集成电路无损检测设备
一种自行车自带式充气装置
本实用新型公开了一种自行车自带式充气装置。它包括充气部分和控制部分；充气部分是将气筒固定于一根钢丝上；大圆盘套装在车轮中心轴左端，通过键与车轮中心轴连接；气筒推杆的下端嵌入大圆盘的凸轮凹槽中，上端与活塞固连；控制部分是在...
白小龙武建伟张云龙王琪赟
文献传递
扫描超声波显微镜同时测量薄层材料厚度、声速、密度和衰减的方法
本发明公开了一种扫描超声波显微镜同时测量薄层材料厚度、声速、密度和衰减的方法。其步骤包括：1）将薄层材料放置于基体材料表面，使超声波探头分别位于基体材料和薄层材料正上方，测得基体材料和薄层材料的超声波回波信号<I>s</...
居冰峰白小龙吴海腾陈剑姜燕吴蕾
文献传递
用于集成电路缺陷检测的扫描超声显微技术
本文介绍了一种用于IC内部缺陷检测的扫描超声显微镜(SAM, ScaningAcustic Microscopy)及其检测技术。SAM是基于超声波脉冲回波技术工作的，超声波有纵波、横波和表面波之分，形式多样，横跨宏观检测...
姜燕白小龙居冰峰
关键词：集成电路芯片检测超声扫描
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