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领域

  • 10篇电子电信

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  • 1篇质谱分析
  • 1篇实用化

机构

  • 11篇中国科学院

作者

  • 11篇张济康
  • 8篇高鸿楷
  • 5篇侯洵
  • 3篇云峰
  • 2篇张冰阳
  • 2篇杨滨
  • 2篇何益民
  • 1篇张佳文
  • 1篇朱李安
  • 1篇刘苏平
  • 1篇叶亚仙
  • 1篇李秀如
  • 1篇杨永
  • 1篇张增颜
  • 1篇候洵
  • 1篇郭里辉
  • 1篇龚平
  • 1篇张国琦
  • 1篇王海滨

传媒

  • 2篇光子学报
  • 2篇稀有金属
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  • 1篇半导体技术
  • 1篇Journa...
  • 1篇红外技术

年份

  • 1篇1997
  • 1篇1994
  • 1篇1993
  • 3篇1992
  • 2篇1991
  • 1篇1990
  • 1篇1989
11 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
MOCVD法透射式GaAs光阴极材料生长及性能研究被引量:1
1993年
应用常压 MOCVD 装置制备了透射式 GaAs 光电阴极材料。p 型 GaAs 发射层掺杂浓度为10(?)~10^(19)cm^(-3),少子扩散长度为4.02μm。Al_xGa_(1-x)As 层的铝组份含量达0.83光谱吸收波长范围与设计值基本符合。用此方法生成的材料进行了阴极激活实验,制成了透射式 GaAs 光电阴极。
高鸿楷张济康云峰
关键词:砷化镓光电阴极MOCVD
铯分子源的质谱分析
1991年
本文用质谱分析的方法,对广泛应用于象增强器制作的铯分子源的去气过程进行了质谱分析,给出了铯分子源的最佳去气电流与时间。这组数据将有助于正确控制去气过程。
杨滨张济康候洵
关键词:真空系统质谱分析
一种新型砷化镓抛光工艺的研究
1989年
在半导体制造工艺中,首先要获得一个平滑、光亮、无损伤层的表面.半导体晶片的抛光,国际上主要采用化学机械混合同时抛光.该种方法抛光的晶片,表面平整度、光洁度好,机械损伤小.据报道,目前用于砷化镓材料的抛光液配方已有一些,但都不理想.例:2Br-98CH_3OH抛光液,该抛光液存在抛光质量不稳定,有老化现象,毒性大;
刘苏平张国琦高鸿楷张济康
关键词:砷化镓抛光晶片
全文增补中
透射式GaAs光电阴极材料的MOCVD生长被引量:1
1992年
用常压MOCVD装置,制备了透射式GaAs光电阴极材料。发射层P-型GaAs掺杂浓度到10^(18)-10^(19)cm^(-3),少子扩散长度到4.02μm。AlGaAs层的Al组分含量到0.83,其吸收光谱长波限与设计值基本符合。利用此材料进行了阴极激活实验,制成了透射式GaAs光阴极。
高鸿楷张济康云峰龚平王海滨侯洵
关键词:GAAS半导体光阴极气相沉积
GaAs光阴极材料液相外延中溶液配比的研究
1992年
本文研究了在GaAs阴极材料液相外延中浴液配比的理论计算值与实验数值的差异。在大量实验数据的基础上,利用数值计算方法,获得了方便、实用的经验公式。用此公式计算出的溶液配比生长出了高质量的GaAs光阴极材料。
张冰阳何益民李朱安张济康高鸿楷侯洵
关键词:光阴极液相外延砷化镓
GaAs晶片表面的光辐射清洁及红外测温
1991年
本文介绍了在超高真空系统中对GaAs晶片进行光辐射清洁。这个实验是在实际研制的象增强器第三代管转移铟封系统上完成的,已具有实用价值。用这套清洁方法所制作的反射式GaAs光阴极积分灵敏度已达750μA/lm。
杨滨侯洵张济康郭里辉张功力
关键词:GAAS光电阴极光辐射测温
GaAs光阴极材料的液相外延被引量:2
1992年
利用液相外延技术生长出了GaAs光阴极材料,并对外延后的材料进行了观察与分析,测试了外延层厚度的均匀性,外延层表面及内部的氧、碳污染以及外延层中载流子浓度的纵向分布情况。结果表明,用此法生长的外延层表面光亮、平整、界面清晰、平直、厚度均匀,载流子浓度达7.6×10^(16)cm^(-3),少子扩散长度达2.1μm。
张冰阳何益民朱李安张济康高鸿楷侯洵
关键词:砷化镓光阴极
气体旋转衬底座
本实用新型属于专门用于制作半导体材料的装置的结构改进,是在环形沟槽内均布有排气孔,在凹陷中央开有旋塞孔与进气通道相通,并有一旋塞能与其吻合相接,定位针位于旋塞的中心,其周围均布有进气孔,托盘背底面有三条及其以上的圆弧线槽...
张济康高鸿楷
文献传递
气体旋转衬底座
张济康
该专利是对一种专门用于制作半导体材料的装置的结构改进。该气体旋转衬底座的环形沟槽内均布有排气孔,在凹陷中央开有旋塞孔与进气通道相通,定位针位于旋塞中心,其周围均布有进气孔,托盘背底面有三条以上的圆弧线槽,线槽的辐射中心连...
关键词:
MOCVD过程中回流现象的数值模拟被引量:7
1994年
在金属有机物化学汽相淀积过程中,反应器中的回流现象严重影响生长层的界面陡峭性.本文从关于MOCVD的流体力学基本方程出发,用二维有限差分和流函数涡量法求解方程,取得了不同条件下气流场的流谱.计算结果表明,减小反应器坛强、增加运载气体流量等方法可以消除回流.本文所用的流函数-涡量法具有简单、明了,运算速度快等优点.
张佳文高鸿楷张济康杨永
关键词:半导体材料MOCVD数值模拟
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