王剑
- 作品数：8 被引量：11H指数：2
- 供职机构：江南计算技术研究所更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信理学一般工业技术更多>>
- 基于加速环境的可靠性指标验证试验被引量：6
- 2010年
- 首先进行了电子产品失效模型的理论研究,并利用加速退化试验技术而研究了某通信产品失效机理一致的应力范围,通过对试验数据进行的统计分析,计算出失效机理一致情况下的激活能。在可靠性指标验证的试验研究中,将试验样品分成若干组分别进行恒温加速验证试验,并将试验结果与现场统计数据进行比较,最终确定产品的MTBF。
- 王剑翁雷张慧
- 关键词：加速退化试验激活能
- 高速数据总线测试概述被引量：4
- 2010年
- 文章简要介绍了源同步接口总线和高速串行总线的测试难点和各种测试解决方法。
- 曲芳王剑孙国强
- 关键词：高速数据总线高速串行总线
- FPGA测试研究被引量：1
- 2010年
- 文章针对FPGA的用户级ATE测试进行简要分析,对实现过程的部分关键之处提出自己的见解。从可实现性和资源测试覆盖率两方面着手,对FPGA内部部分资源的测试方法进行简要介绍,其测试的主要目的是使得FPGA芯片在用户采购后得到适当的检验和测试。
- 孙国强曲芳王剑
- 关键词：FPGA内部资源
- 超大规模集成电路测试开发技术及流程
- 本文介绍了超大规模集成电路从测试规划到批量筛选过程中各部分的测试开发技术及流程,这些开发技术及流程通过了多个测试项目的实践检验,有较强的通用性和实用价值。
- 张慧曲芳王剑
- 关键词：测试向量
- 文献传递
- 应用DOE提升大尺寸封装高速芯片的机测良率
- 本文描述了一个应用DOE方法来大幅改善芯片机测良率的成功案例,包括要因分析、筛选要因、配置实验、实验结果解析及反馈等。
- 王剑陆晔张树文
- 关键词：DOE
- 文献传递
- 电子产品高加速寿命试验技术与方法
- 本文介绍了高加速寿命试验和高加速应力筛选试验的基本原理、特点、试验方法及试验步骤,对高加速寿命试验和高加速应力筛选试验的应用和前景进行了展望.
- 张树文王剑邬宁彪
- 关键词：电子产品高加速寿命试验HASS应力
- 文献传递
- 存储器老化测试系统
- 本文介绍了一种在存储器老化的过程中进行功能测试的老化测试方式,这种方式可分摊存储器的测试时间并降低测试成本.
- 王剑
- 关键词：元器件存储器
- 文献传递
- GTEM法辐射敏感度自动测试系统
- 本文阐述了以GTEM传输室为测试场地建立起的小型电子设备的电磁辐射敏感度自动测试系统的工作原理、方法和步骤.并对其测试结果进行了基本的误差分析.
- 王剑刘鸿琴
- 关键词：自动测试系统电磁辐射误差分析电子设备
- 文献传递
