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牛付林

作品数:21 被引量:48H指数:4
供职机构:信息产业部电子第五研究所更多>>
相关领域:电子电信一般工业技术理学电气工程更多>>

文献类型

  • 11篇期刊文章
  • 7篇会议论文
  • 3篇专利

领域

  • 15篇电子电信
  • 3篇一般工业技术
  • 2篇理学
  • 1篇经济管理
  • 1篇电气工程

主题

  • 10篇电子元
  • 9篇电子元器件
  • 9篇元器件
  • 5篇可靠性
  • 4篇塑封
  • 3篇电路
  • 3篇塑封微电路
  • 3篇破坏性物理分...
  • 3篇无损检测
  • 3篇物理分析
  • 3篇高可靠
  • 3篇超声波检测
  • 2篇评价数据
  • 2篇微波器件
  • 2篇校准
  • 2篇校准器
  • 2篇控制技术
  • 2篇PEM
  • 1篇电连接
  • 1篇电连接器

机构

  • 16篇信息产业部电...
  • 3篇中国电子产品...
  • 1篇南京电子器件...
  • 1篇信息产业部
  • 1篇工业和信息化...

作者

  • 21篇牛付林
  • 3篇来萍
  • 3篇宋芳芳
  • 3篇恩云飞
  • 3篇魏建中
  • 3篇来萍
  • 2篇吴文章
  • 2篇郑廷珪
  • 2篇施明哲
  • 2篇何小琦
  • 2篇卢思佳
  • 2篇刘磊
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  • 1篇付义珠
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  • 1篇王小强
  • 1篇张晓明
  • 1篇王因生
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  • 1篇李少平

传媒

  • 6篇电子产品可靠...
  • 2篇电子质量
  • 2篇2005第十...
  • 2篇中国电子学会...
  • 1篇半导体技术
  • 1篇固体电子学研...
  • 1篇半导体光电
  • 1篇2003第十...
  • 1篇第十一届全国...

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 2篇2012
  • 1篇2011
  • 1篇2006
  • 6篇2005
  • 5篇2004
  • 2篇2003
  • 1篇2002
21 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
塑封微电路(PEM)应用于高可靠领域的风险及对策
本文从塑封微电路的物理性能和主要可靠性问题出发,介绍了将PEM应用于高可靠领域(如航空、航天、军用)中可能产生的风险,探讨了为将低使用风险而采用的升级筛选、质量鉴定以及可靠性评价等方法和技术手段。
来萍恩云飞牛付林
文献传递
非标准气压封装元器件内部气氛分析方法和试验校准件
本发明公开了一种试验校准件,它为一系列内腔体积不同的、采用标准气压封装的金属空心圆柱体。本发明还公开了一种非标准气压封装元器件内部气氛分析方法,它包括如下步骤:选择内部气氛分析设备对应的校准器进行测量,获得被测元器件的端...
牛付林魏建中
文献传递
塑封微电路(PEM)应用于高可靠领域的风险及对策
本文从塑封徽电路的物理性能和主要可靠性问题出发,介绍了将PEM应用于高可靠领域(如航空、航天、军用)中可能产生的风险,探讨了为将低使用风险而采用的升级筛选、质量鉴定以及可靠性评价等方法和技术手段.
来萍恩云飞牛付林
关键词:塑封微电路
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破坏性物理分析(DPA)在评价元器件质量水平方面的作用被引量:8
2004年
破坏性物理分析(DPA)技术是保证电子元器件质量的关键技术,在电子元器件的生产过程中以及上机前,在保证电子元器件质量一致性、可靠性等方面有着广泛且重要的应用优势。但目前国内没有充分应用此技术,严重的限制了国内电子元器件质量的提高,尤其是民用电子元器件普遍存在或多或少的隐蔽的质量缺陷。
牛付林宋芳芳
关键词:破坏性物理分析电子元器件可靠性产品质量
非标准气压封装元器件内部气氛分析方法和试验校准件
本发明公开了一种试验校准件,它为一系列内腔体积不同的、采用标准气压封装的金属空心圆柱体。本发明还公开了一种非标准气压封装元器件内部气氛分析方法,它包括如下步骤:选择内部气氛分析设备对应的校准器进行测量,获得被测元器件的端...
牛付林魏建中
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破坏性物理分析(DPA)技术的应用
破坏性物理分析(DPA)技术是保证电子元器件质量的关键技术,在电子元器件的生产过程中以及上机前,在保证电子元器件质量一致性、可靠性等方面有着广泛且重要的应用优势.但目前国内没有充分应用此技术,严重的限制了国内电子元器件质...
牛付林
关键词:破坏性物理分析电子元器件可靠性
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双波透射技术在薄芯片无损检测中的应用被引量:2
2004年
从传统的声学扫描技术在对薄芯片和多层结构检测时所表现的不足引入,主要阐述了双波透射技术在此领域应用的突出优势,介绍了双波透射技术的工作原理及其关键部件反射板的选取,以及双波透射术的应用前景。
牛付林吴文章
关键词:超声波检测无损检测反射板
如何采购优质电子元器件
本文主要介绍了电子元器件采购中的三种质量控制技术(电性能测试、物理分析和可靠性试验),以及他们相互之间的关系。并列举了一些有代表性的元器件门类及其常见的失效模武,根据元器件工作条件及特点指出了元器件采购进货中质量控制方案...
牛付林
关键词:电子元器件控制技术
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电子元器件采购中的质量控制技术被引量:2
2005年
介绍了电子元器件采购中的3种质量控制技术(电性能测试、物理分析和可靠性试验)及其相互关系。列举了一些有代表性的元器件及其常见的失效模式,根据其工作条件的特点,提出元器件采购质量控制方案的常用试验项目,以此说明这3种质量控制技术在电子元器件采购中所发挥的作用。
牛付林宋芳芳
关键词:电子元器件控制技术
微波器件失效分析结果统计与分析
本文对56例微波器件失效分析结果进行了统计和分析,得到了微波器件在使用中失效的主要原因、分类及其分布,为微波器件的生产方和使用方提供了有价值的统计数据及分析结果.
来萍李萍张晓明郑廷珪李少平徐爱斌施明哲牛付林何小琦
关键词:微波器件统计分析可靠性
文献传递
共3页<123>
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