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李理
作品数:
14
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供职机构:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
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相关领域:
经济管理
电子电信
金属学及工艺
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合作作者
陈刚
中国电子科技集团公司第五十五研...
柏松
中国电子科技集团公司第五十五研...
王雯
中国电子科技集团公司第五十五研...
刘海琪
中国电子科技集团公司第五十五研...
王泉慧
中国电子科技集团公司第五十五研...
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单晶硅
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对准标记
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升温速率
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树脂
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树脂层
机构
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中国电子科技...
作者
14篇
李理
14篇
柏松
14篇
陈刚
2篇
王泉慧
2篇
刘海琪
2篇
王雯
1篇
陈征
1篇
陶永洪
年份
3篇
2015
3篇
2014
4篇
2013
4篇
2012
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一种用于制造碳化硅器件的高温退火方法
本发明是一种用于制造碳化硅器件的高温退火方法,包括以下步骤:1)使用酸性溶液清洗经过离子注入的SiC晶片;2)在SiC晶片上涂覆一层有机化合物作为保护层;3)将SiC晶片放入高温退火炉,充入氩气作为保护气体;4)将SiC...
李理
柏松
陈刚
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一种金属-碳化硅欧姆接触快速退火方法
本发明是一种金属-碳化硅欧姆接触快速退火方法,包括以下步骤:1)将SiC晶片放在Si片托盘上,然后置入快速热处理装置,同时充入保护气体Ar;2)第一升温阶段、保持温度;3)第二升温阶段,稳定温度阶段8;4)第三升温阶段;...
李理
柏松
陈刚
文献传递
一种改善碳化硅台面底部的刻蚀方法
本发明是一种改善碳化硅台面底部的刻蚀方法。其工艺包括:一、在碳化硅外延层上形成一层介质膜;二、在介质膜上涂覆光刻胶,通过光刻工艺形成台面的图形转移;三、光刻胶作为阻挡层,采用第一种条件干法刻蚀介质膜;四、过刻蚀介质膜到碳...
陈刚
李理
刘海琪
柏松
一种金属-碳化硅欧姆接触快速退火方法
本发明是一种金属-碳化硅欧姆接触快速退火方法,包括以下步骤:1)将SiC晶片放在Si片托盘上,然后置入快速热处理装置,同时充入保护气体Ar;2)第一升温阶段、保持温度;3)第二升温阶段,稳定温度阶段8;4)第三升温阶段;...
李理
柏松
陈刚
用树脂层制造密集台阶型器件自对准金属图形的转移方法
本发明是用树脂层制造密集台阶型器件自对准金属图形的转移方法,其工艺包括:一、制成密集台阶结构;二、使用酸性溶液清洗经过部分工艺的半导体材料;三、在半导体材料上形成一层金属膜;四、在半导体材料上涂覆粘附剂、树脂层;五、树脂...
陈刚
李理
王雯
柏松
文献传递
一种半导体器件中接触区引线工艺保护对准标记的方法
本发明是一种半导体器件中接触区引线工艺保护对准标记的方法,其工艺包括:一、正常进行半导体器件的部分正面工艺;二、使用酸性溶液清洗经过部分工艺的半导体材料;三、在半导体材料上的对准标记区域形成一层耐刻蚀金属膜;四、采用干法...
陈刚
李理
王泉慧
柏松
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一种改善碳化硅台面底部的刻蚀方法
本发明是一种改善碳化硅台面底部的刻蚀方法。其工艺包括:一、在碳化硅外延层上形成一层介质膜;二、在介质膜上涂覆光刻胶,通过光刻工艺形成台面的图形转移;三、光刻胶作为阻挡层,采用第一种条件干法刻蚀介质膜;四、过刻蚀介质膜到碳...
陈刚
李理
刘海琪
柏松
文献传递
用树脂层制造密集台阶型器件自对准金属图形的转移方法
本发明是用树脂层制造密集台阶型器件自对准金属图形的转移方法,其工艺包括:一、制成密集台阶结构;二、使用酸性溶液清洗经过部分工艺的半导体材料;三、在半导体材料上形成一层金属膜;四、在半导体材料上涂覆粘附剂、树脂层;五、树脂...
陈刚
李理
王雯
柏松
一种碳化硅器件背面欧姆接触的快速退火方法
本发明是一种碳化硅器件背面欧姆接触的快速退火方法,包括以下步骤:1)在SiC晶片正面制备一层SiO<Sub>2</Sub>作为保护层;2)在SiC晶片背面制备欧姆接触金属;3)将SiC晶片正面向下放在托盘上,晶片正面保护...
李理
陈刚
柏松
陶永洪
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一种减小碳化硅凹槽损伤提高肖特基栅可靠性的方法
本发明公开了一种减小碳化硅凹槽损伤提高肖特基栅可靠性的方法,该方法包括以第一光刻胶层(3)作为阻挡层,采用三氟化氮作为刻蚀气体刻蚀碳化硅外延层(2)以形成栅凹槽(5);和对所述碳化硅外延层(2)的表面进行高温氧化处理以形...
陈刚
柏松
李理
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