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白云波

作品数：52 被引量：9H指数：2
供职机构：中国科学院上海光学精密机械研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信机械工程自动化与计算机技术理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 45篇专利
  • 5篇会议论文
  • 2篇期刊文章

领域

  • 12篇电子电信
  • 9篇机械工程
  • 4篇自动化与计算...
  • 2篇理学

主题

  • 20篇光学
  • 14篇干涉仪
  • 13篇面形
  • 12篇光学元件
  • 12篇大口径
  • 8篇探测器
  • 8篇波长
  • 7篇激光
  • 6篇可调
  • 6篇口径
  • 5篇均匀性
  • 5篇大口径光学元...
  • 4篇调谐
  • 4篇衍射
  • 4篇入射
  • 4篇双波长
  • 4篇透射
  • 4篇平面光学元件
  • 4篇全口径
  • 4篇滤波器

机构

  • 52篇中国科学院上...
  • 2篇南京理工大学

作者

  • 52篇白云波
  • 52篇刘世杰
  • 44篇周游
  • 24篇邵建达
  • 22篇张志刚
  • 22篇王微微
  • 20篇徐天柱
  • 18篇王圣浩
  • 9篇吴福林
  • 8篇李灵巧
  • 6篇马啸
  • 2篇成倩
  • 2篇栾竹
  • 2篇陈惟肖
  • 2篇齐红基
  • 2篇刘欢欢
  • 1篇晋云霞
  • 1篇魏朝阳
  • 1篇徐隆波
  • 1篇胡晨

传媒

  • 5篇第十六届全国...
  • 1篇激光与光电子...
  • 1篇光学学报

年份

  • 3篇2023
  • 3篇2022
  • 2篇2021
  • 7篇2020
  • 7篇2019
  • 8篇2018
  • 6篇2017
  • 13篇2016
  • 1篇2015
  • 1篇2014
  • 1篇2013
共 52 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
非接触式电光晶体通光面法线与Z轴偏离角测量装置及其测量方法
一种电光晶体通光面法线与Z轴偏离角测量装置及其测量方法，该装置包括激光器、第一透镜、空间滤波器、第二透镜、起偏器、分光镜、平面反射镜、数字光电自准直仪、第三透镜、第四透镜、检偏器、成像透镜、探测器和计算机处理系统。实验表...
刘世杰张志刚鲁棋邵建达王圣浩王微微白云波李灵巧
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单幅载频干涉条纹相位提取方法及检测装置
一种用于大平面光学元件检测的单幅载频干涉条纹的相位提取方法及检测装置，该方法主要以虚光栅移相莫尔条纹和二维傅立叶变换为基础，从单幅载频干涉图中提取被测光学元件全口径范围内的二维波面相位信息，并提出了圆形口径元件面形均方根...
周游刘世杰白云波陈惟肖王微微
文献传递
一种基于最小范数解的光学平面绝对检测方法
本发明一种基于最小范数解的光学平面绝对检测方法属于精密测量技术领域，具体涉及一种平面绝对检测方法；本发明利用参考平晶、反射平晶和辅助平晶两两组合，建立线性方程组并求其最小范数解，即可获取各平晶的绝对全面形，有效提高干涉仪...
乔潇悦苏榕白云波刘世杰
超声可调光谱干涉测量装置和测量方法
一种超声可调光谱干涉测量的测量装置和测量方法，测量装置包括超宽光谱激光光源、环形器、超声波发生器、换能器、铝板、布拉格光纤光栅、光纤微调整架、陷光器、扩束输出镜、分光棱镜、CCD相机、准直透镜、透射标准镜、待测元件和标准...
刘世杰张徐周游白云波鲁棋徐天柱
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子孔径拼接在米量级平面光学元件面形误差检测中的应用
<正>应用于高功率激光装置中的光学元件具有尺寸大、精度高、数量多等特点,包括偏振片、钕玻璃片、反射镜以及脉冲压缩光栅等大口径平面光学元件,其中大部分光学元件为矩形,外形尺寸(对角线)都接近甚至超过了米量级。利用大口径平面...
周游刘世杰白云波张志刚邵建达
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半球形光学元件透射率及其均匀性的测量装置和方法
一种测量半球形光学元件透射率及其均匀性的装置和方法，包括超连续谱激光器、单色器、光学衰减器、分束器、参考光探测器、光阑、多维机械调整架、待测半球形光学元件、步进电机控制器、测试光探测器、数据采集器和计算机等部分。本发明解...
邵建达刘世杰王圣浩王微微周游徐天柱倪开灶鲁棋李灵巧白云波
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大口径掠入射反射聚焦镜高精度面形检测方法
一种大口径掠入射反射聚焦镜高精度面形检测方法，测量工具包括激光平面干涉仪、扩束准直系统、平面透射标准镜、精密旋转平台和计算机处理系统。该方法通过对激光平面干涉仪进行扩束准直得到大口径平行检测光束，并与精密旋转平台组成子口...
刘世杰张志刚邵建达马啸周游王圣浩白云波齐红基
大口径高平行度光学元件波前检测装置
一种大口径高平行度光学元件波前检测装置，该装置包括小口径短相干光源平面干涉仪主机、扩束系统、标准镜和计算机，本发明装置能对大口高平行度光学元件波前误差进行精确检测，有效地解决了一般商用大口径波长移相干涉仪在检测高平行度光...
刘世杰周游白云波鲁棋张志刚
电子元器件外壳外观缺陷测量装置和测量方法
一种电子元器件外壳外观缺陷测量装置和测量方法，该装置主要包括第一CCD相机、第一变倍镜头、环形光源、第一同轴照明光源、第一光纤、第二CCD相机、第二变倍镜头、第二同轴照明光源、第二光纤、旋转位移台、光源控制模块、图像采集...
刘世杰倪开灶周游徐天柱潘靖宇王圣浩王微微白云波
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米级光栅衍射波前拼接检测装置和检测方法
一种米级光栅衍射波前拼接检测装置和检测方法，装置包括菲索型干涉仪和干涉仪标准镜，特点在于还有电控气浮平移台、二维调整载物台、控制系统和计算机，所述的二维调整载物台固定在所述的电控气浮平移台上，所述的控制系统的输出端与所述...
刘世杰周游吴福林白云波张志刚王微微张亮
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