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孟凯

作品数：7 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院光电技术研究所更多>>
相关领域：文化科学更多>>

合作作者

文献类型

  • 7篇中文专利

领域

  • 1篇文化科学

主题

  • 5篇抛光
  • 4篇光学
  • 3篇抛光工艺
  • 3篇频段
  • 3篇光学元件
  • 3篇归一化
  • 3篇函数
  • 2篇运算符
  • 2篇平面光学元件
  • 2篇取样方法
  • 2篇去除函数
  • 2篇面粗糙度
  • 2篇计算机控制
  • 2篇光学平面
  • 2篇函数曲线
  • 2篇复数
  • 2篇复数运算
  • 2篇傅里叶
  • 2篇傅里叶变换
  • 2篇表面粗糙度

机构

  • 7篇中国科学院

作者

  • 7篇孟凯
  • 7篇万勇建
  • 5篇范斌
  • 5篇王佳
  • 5篇施春燕
  • 2篇伍凡
  • 2篇申立军

年份

  • 1篇2017
  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 2篇2014
  • 2篇2013
共 7 条 记 录，以下是 1-7
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排序方式：
CCOS抛光工艺抑制不同频段误差能力的评价方法
本发明CCOS抛光工艺抑制不同频段误差能力的评价方法，所述方法的步骤如下：步骤S1：利用光学元件抛光前后的功率谱密度函数PSD<Sub>bef</Sub>、PSD<Sub>aft</Sub>，构建出平滑谱函数H与PSD<...
王佳范斌万勇建施春燕卓彬孟凯
文献传递
去除函数在确定抛光条件下的误差抑制能力的评价方法
本发明为去除函数在确定抛光条件下的误差抑制能力的评价方法，步骤S1：利用第j-1次和第j次抛光后光学元件面形数据的功率谱密度函数PSD<Sub>j-1</Sub>、PSD<Sub>j</Sub>，构建出平滑谱函数H模型即...
王佳范斌万勇建施春燕卓彬孟凯
文献传递
一种测量圆形光学平面表面粗糙度的取样方法
本发明公开一种测量圆形光学平面表面粗糙度的取样方法，包括步骤：步骤S1：根据圆形光学平面的尺寸和精度要求，设定取样区域的数目为m，每个取样区域取一个采样点则共有m个取样点；步骤S2：确定每个取样区域中心在极坐标系下的角度...
孟凯万勇建伍凡申立军
文献传递
一种测量圆形光学平面表面粗糙度的取样方法
本发明公开一种测量圆形光学平面表面粗糙度的取样方法，包括步骤：步骤S1：根据圆形平面的尺寸和精度要求，设定取样区域的数目为m，每个取样区域取一个采样点则共有m个取样点；步骤S2：确定每个取样区域中心在极坐标系下的角度坐标...
孟凯万勇建伍凡申立军
CCOS抛光工艺抑制不同频段误差能力的评价方法
本发明CCOS抛光工艺抑制不同频段误差能力的评价方法，所述方法的步骤如下：步骤S1：利用光学元件抛光前后的功率谱密度函数PSD<Sub>bef</Sub>、PSD<Sub>aft</Sub>，构建出平滑谱函数H与PSD<...
王佳范斌万勇建施春燕卓彬孟凯
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一种抑制光学表面全频段误差的抛光磨盘
本发明为一种抑制光学表面全频段误差的抛光磨盘，具有一转轴连接端位于基底的外上部中心位置；一基底具有环状凸台位于侧壁的外侧，环状凸台上具有一组固接螺孔，一组固接螺孔中心对称于转轴连接端；一法兰环，为圆环柱体，且具有一组固接...
王佳范斌万勇建施春燕孟凯
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去除函数在确定抛光条件下的误差抑制能力的评价方法
本发明为去除函数在确定抛光条件下的误差抑制能力的评价方法，步骤S1：利用第j-1次和第j次抛光后光学元件面形数据的功率谱密度函数PSD<Sub>j-1</Sub>、PSD<Sub>j</Sub>，构建出平滑谱函数H模型即...
王佳范斌万勇建施春燕卓彬孟凯
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