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牟海川

作品数:6 被引量:6H指数:2
供职机构:中国科学院上海冶金研究所上海微系统与信息技术研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信一般工业技术电气工程更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 2篇专利

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 3篇离子束
  • 3篇离子束辅助
  • 3篇离子束辅助沉...
  • 2篇熔融玻璃
  • 2篇离子
  • 2篇离子源
  • 2篇离子注入
  • 2篇溅射
  • 1篇低剂量
  • 1篇电路
  • 1篇氧化物
  • 1篇氧化物半导体
  • 1篇圆片
  • 1篇抗高温氧化
  • 1篇集成电路
  • 1篇高温氧化
  • 1篇半导体
  • 1篇NB
  • 1篇SIMOX
  • 1篇SIMOX圆...

机构

  • 4篇中国科学院上...

作者

  • 4篇牟海川
  • 2篇孙义林
  • 2篇张福民
  • 1篇杨石奇
  • 1篇李林
  • 1篇任琮欣
  • 1篇俞跃辉
  • 1篇王曦
  • 1篇陈猛
  • 1篇郑望
  • 1篇陈静
  • 1篇陈国梁
  • 1篇柳襄怀
  • 1篇朱建中
  • 1篇林梓鑫

传媒

  • 1篇Journa...
  • 1篇功能材料与器...

年份

  • 1篇2001
  • 1篇1999
  • 1篇1997
  • 1篇1994
6 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
离子束辅助沉积制备TiO_2-Nb_2O_5氧敏薄膜被引量:1
1997年
采用离子束辅助沉积方法在Al2O3陶瓷衬底上制备了TiO2Nb2O5氧敏薄膜。考察了薄膜组分比及退火温度对薄膜氧敏特性和结构的影响。电阻氧分压特性测试结果表明,纯Nb2O5薄膜的氧敏特性优于纯TiO2薄膜;掺入少量的Ti可使Nb2O5薄膜的氧敏特性提高,以5mol%TiO2掺杂的Nb2O5薄膜最佳;过量掺杂则使Nb2O5薄膜的氧敏特性明显变差。在5mol%TiO2Nb2O5薄膜中再掺入少量的Pt(03%05%)可使其氧敏特性更好,而且其响应时间大大缩短。X射线衍射谱(XRD)和X射线光电子谱(XPS)分析表明,在退火后的TiO2Nb2O5薄膜中Nb2O5为单斜(Mform)结晶相,而掺杂的Ti以非晶的TiO2形式存在,即使在高达34mol%TiO2Nb2O5薄膜中也不例外。纯TiO2膜为金红石结构。不同退火温度(90011000C)对薄膜的氧敏特性和结构无明显影响。
牟海川任琮欣陈国梁陈国梁杨石奇朱建中
关键词:氧化物半导体离子束辅助沉积
离子束辅助沉积铂膜的成型模具
本发明是离子束辅助沉积铂膜的成型模具,属于真空蒸发、溅射及离子注入膜层形成材料涂覆的技术领域,它是在成型模具基体上用离子束辅助沉积形成3—20微米的铂膜,用氮或惰性气体作为清洗和轰击离子源的放电气体,用惰性气体作为溅射离...
孙义林张福民陈酋善牟海川
文献传递
离子束辅助沉积铂膜的成型模具及其工艺
本发明是离子束辅助沉积铂膜的成型模具及其工艺,属于真空蒸发、溅射及离子注入膜层形成材料涂覆的技术领域,它是在成型模具基体上用离子束辅助沉积形成3—20微米的铂膜,用氮或惰性气体作为清洗和轰击离子源的放电气体,用惰性气体作...
孙义林张福民陈酋善牟海川
文献传递
低剂量SIMOX圆片研究被引量:3
2001年
用二次离子质谱、剖面透射电镜、高分辨电镜以及化学增强腐蚀法表征了低剂量 SIMOX圆片的结构特征 .结果显示 ,选择恰当的剂量能量窗口 ,低剂量 SIMOX圆片表层 Si单晶质量好、线缺陷密度低埋层厚度均匀、埋层硅岛密度低且硅 /二氧化硅界面陡峭 .这些研究表明 ,低剂量 SIMOX圆片制备是很有前途的
陈猛陈静郑望李林牟海川林梓鑫俞跃辉王曦
关键词:低剂量SIMOXSOI集成电路
共1页<1>
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