卓尚军
- 作品数：107 被引量：350H指数：12
- 供职机构：中国科学院上海硅酸盐研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金中国科学院仪器设备功能开发技术创新项目国家创新方法工作专项更多>>
- 相关领域：理学化学工程一般工业技术环境科学与工程更多>>
- 能量色散X射线荧光光谱在钢铁工业中的应用被引量：14
- 2001年
- 评述了能量色散 X射线荧光光谱仪的发展现状及其在钢铁分析中应用 ,并详细介绍了飞利浦公司生产的能量色散 X射线荧光光谱仪 Mini Pal(使用 Si- PIN探测器 )在合金和高炉炉料分析中的应用 ,以及作者研制的 SZ- 2型低分辨率能量色散 X射线荧光光谱仪在镀层厚度分析中的应用情况 ,表明这类仪器可以满足钢铁工业中原料、镀层厚度及组成。
- 吉昂卓尚军陶光仪
- 关键词：钢铁分析
- X射线荧光光谱在晶体材料组成分析中的应用被引量：5
- 2003年
- 介绍了X射线荧光光谱在人工晶体材料组成分析中的应用.虽然x射线荧光光谱分析是一种非常有效的元素分析手段,但必须针对不同的样品和分析要求采用合适的样品制备方法,选择或配制合适的校正标样对基体效应进行校正.在样品为单晶时异常反射对光谱的定性解释和定量分析的条件选择可能产生影响,此时最好使用熔融制样法.使用测量结果时,应该充分考虑其不确定度.
- 卓尚军陶光仪吉昂盛成申如香
- 关键词：晶体材料X射线荧光光谱测量不确定度
- X射线光谱在人工晶体质量控制上的应用(摘要)
- 中国科学院上海硅酸盐研究所是一个先进材料研究所,人工晶体是其主要研究方向之一,每年都有数以吨记的各种晶体生长出来,同时还有许多种新的晶体在各种炉子里试验生长.在各种晶体生长方法中,我所用坩埚下降法生长大尺寸人工晶体的技术...
- 卓尚军
- 一种用于辉光放电质谱仪的样品装置及样品测试方法
- 本发明提供一种用于辉光放电质谱仪的样品装置，包括第二阴极进样装置，所述第二阴极进样装置包括具有敞口的壳体、镂空金属片和弹簧嵌件，所述镂空金属片具有镂空图案，并固定在所述壳体的敞口上，所述弹簧嵌件固定在所述壳体的内部、并处...
- 钱荣 沈世音 朱月琴卓尚军盛成
- X射线荧光光谱(XRF)法分析碳化硅陶瓷中的氧
- X射线荧光光谱（XRF）法是一种可以进行化学成分检测的方法，在许多领域都得到成功应用。本文作者采用用XRF仪器，通过测量铑的康普顿散射线(RhKαC)强度的变化，对SiC陶瓷中的氧含量进行定量分析。
- 申如香卓尚军盛成
- 关键词：X射线荧光光谱法碳化硅陶瓷氧含量
- XPS-AES联用技术对Pt-Co,Cu-Au和Cu-Ag合金薄膜的定量表征方法研究被引量：1
- 2013年
- 俄歇电子能谱(AES)在表面微区元素分析方面优势明显,但是受基体效应的影响,其定量分析,特别是非单质材料表面元素含量分析的准确度差,X射线光电子能谱(XPS)的定量分析准确度较高。为了降低AES定量分析的误差,将XPS和AES两种分析技术联用,选择Pt-Co,Cu-Au和Cu-Ag三种二元合金样品进行了研究,利用样品的XPS定量分析结果对AES的定量分析所用相对灵敏度因子进行修正,将修正后的相对灵敏度因子用于其他不同组分比的样品的定量分析,以验证其分析准确性。结果表明,修正后的灵敏度因子在用于AES定量分析时相对误差明显降低,分析相对误差小于10%。为了解决AES定量分析在积分谱处理形式下选峰困难的问题,将积分谱进行微分化处理,并修正了微分谱的处理形式下的相对灵敏度因子,AES的定量分析相对误差降低到小于9%,表明在两种处理形式下都能得到较为准确的定量结果。修正后的相对灵敏度因子包含了基体效应尤其是背散射效应的影响,从而有助于降低AES定量分析的误差。说明借助XPS提高AES定量分析准确度的研究方法具有一定的可行性。
- 李连中卓尚军申如香钱荣高捷
- 关键词：XPSAES
- 唐宋时期广西青瓷X射线荧光研究
- 在广西文物普查过程中，广西境内的很多地方都发现了古窑址.本研究采用X射线荧光光谱仪对从8处唐宋时期的古窑址采集到的青瓷残片的胎和釉进行了比较研究.这些瓷片原来的器型包括碗、盘、钵、罐等.胎的颜色多为灰色，釉的颜色多为青色...
- 卓尚军张志刚孙伟嬿申如香盛成周华李铧
- 关键词：唐宋时期古窑址文物普查
- 具有电化学测试功能的试验箱
- 本实用新型公开了具有电化学测试功能的试验箱，包括箱体，箱体分上下为工作区以及存放区，工作区为可密封区域；工作区一侧设有工作窗口，工作窗口上安装有封板，工作区外壁安装有开关盒，工作区内壁上设置有定位板，定位板上安装有托盘，...
- 钱荣卓尚军朱月琴申如香
- 国际SCI期刊导航《X-Ray Spectrometry》
- 2014年
- 《X-Ray Spectrometry》（印刷版ISSN 0049-8246,网络版ISSN 1097-4539）由John Wiley＆amp;Sons,Ltd.出版,是X射线光谱领域的专业性学术期刊.该刊1972年创刊,开始为季刊,1987年改为双月刊.除了特刊（Special Issue）外,每期发表论文都在20篇以下,创刊至今已发表论文约2000篇.2012年SCI影响因子为1.546.
- 卓尚军
- 关键词：X-RAYSCI导航X射线光谱印刷版
- X射线荧光光谱法测定Zn镀层质量厚度及计算谱线选择问题研究被引量：5
- 2006年
- 用X射线荧光光谱法测定了Fe基上Zn镀层的质量厚度;研究了厚度不同时选用不同谱线计算对测定结果的影响,发现在镀层质量厚度较小时(约<14mg/cm2)测量Zn元素的Kα线,质量厚度较大时选择Zn的Kα和Fe的Kα线共同计算,用纯元素和相似标样校正测定结果之间的偏差最小;用纯元素作校正标样测定了3个标准样品的Zn镀层质量厚度,计算结果与标准值符合得较好。
- 韩小元卓尚军王佩玲陶光仪
- 关键词：X射线荧光光谱
