教育部科学技术研究重点项目(106136)
- 作品数：2 被引量：20H指数：2
- 相关作者：吴广宁周力任何景彦郭小霞王鹏更多>>
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- 发文基金：教育部科学技术研究重点项目国家自然科学基金国家教育部博士点基金更多>>
- 相关领域：电气工程一般工业技术更多>>
- 采用tanδ表征变频电机绞线对绝缘老化特性的研究被引量：17
- 2010年
- 变频电机定子绝缘用电磁线的失效是导致电机绝缘破坏的主要原因。为此,针对JD117变频电机匝间绝缘用电磁线进行试验研究,以绞线对为试验对象,在双极性高频脉冲电压下,进行了不同频率和不同时间的老化,测试并分析了试样的介电频率谱和温度谱,结合扫描电镜(SEM)研究了不同老化条件对绞线对表面形貌的影响。试验结果表明:随着老化程度的加深,通过分析tanδ的频率谱,其峰值点的数值可以被用来判断绝缘的老化状况。老化使得材料内部结构发生变化,长链发生断裂,生成了小分子量的极性分子,松弛极化更易建立。老化前后,绞线对表面的形貌有很大的不同并且差异随着老化程度的加深而加大。
- 吴广宁周力任郭小霞何景彦
- 关键词：变频电机绝缘介质损耗介电谱
- 基于介电谱分析聚酰亚胺薄膜的老化特征被引量：3
- 2011年
- 对纳米和普通聚酰亚胺薄膜进行了双极性脉冲电压下的老化试验,分析了薄膜老化前后的介电频率谱和温度谱,并借助电镜扫描分析,研究了薄膜老化前后的微观结构形态与宏观介电性能之间的关系。结果表明:老化使聚酰亚胺薄膜介电频率谱中的偶极子弛豫损耗峰向高频移动,低温区的界面极化损耗峰向高温移动;且老化使聚酰亚胺薄膜分子链断裂,生成分子量小的极性分子,使取向极化更易建立;纳米粒子的加入,削弱了老化因子对聚酰亚胺薄膜内部结构的破坏作用,使偶极子取向带来的弛豫损耗大大减小;纳米掺杂形成大量的界面缺陷,使界面极化带来的介质损耗大大增加。
- 高波吴广宁曹开江罗杨王鹏崔易
- 关键词：聚酰亚胺薄膜绝缘介电谱
