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中央高校基本科研业务费专项资金(JUDCF1003)

作品数：1 被引量：3H指数：1
相关作者：刘迪顾晓峰陆坚梁海莲更多>>
相关机构：中国电子科技集团第五十八研究所教育部更多>>
发文基金：中央高校基本科研业务费专项资金国家自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇阻抗
  • 1篇激光
  • 1篇激光光束
  • 1篇激励源
  • 1篇光束

机构

  • 1篇教育部
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 1篇梁海莲
  • 1篇陆坚
  • 1篇顾晓峰
  • 1篇刘迪

传媒

  • 1篇固体电子学研...

年份

  • 1篇2012
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
基于SIFT技术的集成电路失效缺陷分析被引量：3
2012年
激励源诱导故障测试(SIFT)是一种新型的失效定位技术,可用于集成电路和分立器件中漏电、击穿、短路等失效点的定位及失效机理的分析。在介绍SIFT技术工作原理的基础上,利用该技术进行了六反相器电路的深埋层缺陷、收发器电路中电源与地之间漏电流失效和串行输出模数转换电路MOS器件欧姆短路的定位,并结合微结构观测分析了失效原因。研究结果表明,SIFT技术能有效分析光发射显微镜(EMMI)和激光光束诱导阻抗变化测试(OBIRCH)技术较难定位的缺陷,弥补了这些常规失效分析技术的不足。
刘迪顾晓峰陆坚梁海莲
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