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江苏省自然科学基金(BK2011173)
作品数:
1
被引量:4
H指数:1
相关作者:
王玮
蔡勇
张宝顺
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相关机构:
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发文基金:
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作者
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张宝顺
1篇
蔡勇
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王玮
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固体电子学研...
年份
1篇
2012
共
1
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ICP刻蚀GaN侧壁倾角以及刻蚀速率的控制
被引量:4
2012年
深入研究了Cl2基气体电感耦合等离子体(ICP)刻蚀系统对于GaN材料侧壁倾角的控制以及刻蚀速率的影响。通过调整ICP离子源功率、射频功率、气体流量、腔室压力等参数,经实验验证,实现了从23°~83°侧壁倾角的大范围工艺控制,为GaN基器件工艺提供了有益指导。
王玮
蔡勇
张宝顺
黄伟
李海鸥
关键词:
电感耦合等离子体
刻蚀
氮化镓
射频功率
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