国家自然科学基金(50872047)
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- Raman光谱研究厚度对La_(0.9)Sr_(0.1)MnO_3/Si薄膜结构的影响
- 2009年
- 通过溶胶-凝胶旋涂方法结合后退火工艺在Si(100)上制备了不同厚度的La0.9Sr0.1MnO3(LSMO)薄膜,利用X射线衍射(XRD)和共焦显微拉曼散射(Raman)研究了LSMO/Si(100)薄膜的微结构.研究结果表明90nm厚的LSMO薄膜具有正交相结构,当厚度大于150nm时,薄膜具有菱方相结构.150nm厚的薄膜的Raman图谱中,490cm-1和602cm-1正交结构中的Jahn-Teller特征峰和670cm-1附近菱方相中MnO6八面体的反对称伸缩模式振动特征峰非常明显,表明薄膜为两相共存结构.随着薄膜厚度的增加,薄膜的晶格常数发生变化,a增大,c减小.这是由于在较厚的薄膜中,相邻MnO6八面体间的夹角变大,Mn—O键长增长.通过使用不同波长的激光Raman散射证实,LSMO/Si薄膜的确具有两相共存结构.由于LSMO和Si衬底间晶格失配,衬底与薄膜的界面处产生了应力,薄膜具有在衬底与薄膜的界面处为正交相、表面为菱方相的双层结构.利用不同波长激发的Raman散射,可以很容易的研究LSMO/Si薄膜的界面结构.
- 刘雪芹韩国俭黄春奎兰伟
- 关键词：LA1-XSRXMNO3微结构
