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集成电路可测性设计IO复用方法被引量：9: 2011年; 超大规模集成电路特征尺寸逐步缩小的发展过程中,芯片面积是制约芯片成本的最重要因素之一,也是直接影响半导体产品市场竞争力的最重要因素之一。本文介绍了将所有可测性设计(DFT)的输入输出端口(IO)与各种类型的正常功能工作模式的IO复用的方法,从而达到减少IO并最终减小芯片面积的目的。介绍了输入信号和输出信号分别在单向端口IO和双向端口IO中复用的方法。然后,以一款经过0.18μm逻辑工艺流片验证的flash存储器控制芯片为例,对比了采用IO复用方法前后芯片的利用率和面积,证明了方案的可行性和有效性。; 张玥万培元林平分; 关键词：输入输出端口复用可测性设计

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博士科研启动基金(X0000190110)