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基于米勒矩阵的偏振激光雷达系统校正方法和实验观测
随着我国工业化的迅猛发展,由于颗粒物排放引起的大气污染问题也越发严重。气溶胶由不同形状的粒子组成,通常可分为球形粒子和非球形粒子,而不同形状的粒子反映了气溶胶的不同性质,利用气溶胶的偏振探测能有效区分球形粒子和非球形粒子...
阎蕾洁
关键词:米勒矩阵校正函数
文献传递
基于偏振态调制器的三级米勒矩阵测量被引量:1
2014年
对基于偏振态调制器的三级米勒矩阵测量方案进行了理论推导和证明,并对其进行了实验验证。通过建立三级系统方程,利用最小二乘的数值算法回归出多个待测器件的米勒矩阵。这种基于系统估值的方案不同于以往文献中提到的使用在线偏振测量仪测量输入/输出偏振态求解单个米勒矩阵的方法。三级串联光学子系统或光器件的米勒矩阵及其物理偏振参量可在一次测量中同时求得。实验测得的三个光学器件延迟量的标准差分别为0.0012、0.0018和0.0040。还针对测量系统的不确定性进行了仿真模拟,并着重讨论了串联系统中存在的误差累积效应,与实验数据进行了比较。
张申飞王春华于清洋雷俊平
关键词:最小二乘法
基于单光弹调制器的米勒矩阵测量技术被引量:4
2013年
针对已有米勒矩阵测量方法的不足,提出了一种基于单光弹调制器的米勒矩阵测量技术,给出了米勒矩阵测量优化算法及系统参数两步校准法。该技术通过两步校准法对系统参数进行校准测量,利用优化算法计算得到待测样品的米勒矩阵。实验结果表明,待测1/4波片相位延迟量测量值为90.4185°,误差在标称偏差λ/300以内,快轴方位角测量值为0.2348°,误差在最大旋转误差0.4°以内。同快轴方位角为0°的1/4波片标准米勒矩阵相比,待测1/4波片米勒矩阵各元素最大相对误差的直接测量值和间接测量值分别为1.97%和0.83%,均小于最大相对误差的模拟仿真值2.11%。通过提高旋转台的读数精度和减小相位延迟量的标称偏差,可以进一步减小米勒矩阵各元素的最大相对误差。
曹绍谦步扬王向朝李思坤汤飞龙李中梁
关键词:偏振米勒矩阵校准
基于单光弹调制器的米勒矩阵测量误差分析被引量:1
2013年
针对已有单光弹调制器米勒矩阵测量技术缺乏定量误差分析的不足,提出了单光弹调制器米勒矩阵测量误差方程,给出了相对误差分析方法,并结合矩阵条件数得到了降低米勒矩阵各元素最大相对误差的两组1/4波片方位角优化组合。实验结果表明,该两组1/4波片方位角优化组合,测量得到的待测1/4波片米勒矩阵各元素的最大相对误差分别为0.12%和0.20%,相比传统1/4波片方位角优化组合{-90°,-45°,30°,60°}条件下得到的各元素最大相对误差为0.83%,分别降低了85.54%和75.90%。
曹绍谦步扬王向朝李思坤汤飞龙李中梁
关键词:偏振米勒矩阵条件数
根据完全米勒矩阵测量值确定液晶单元参数的方法和装置
本发明涉及根据完全米勒矩阵测量值确定液晶单元参数的方法和装置。本发明公开了一种用于测试LCD板的方法和装置。可以将受测LCD板(30)安装到偏振态发生器(10)与偏振态分析器(16)之间的可平移的台面(40)上。对于受测...
M·H·史密斯
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根据完全米勒矩阵测量值确定液晶单元参数的方法和装置
本发明公开了一种用于测试LCD板的方法和装置。可以将受测LCD板(30)安装到偏振态发生器(10)与偏振态分析器(16)之间的可平移的台面(40)上。对于受测单元(30)上的每个位置,多种已知的偏振态(22)被发射穿过L...
M.H.史密斯
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基于米勒矩阵的水下成像技术被引量:1
2010年
探究在浑浊介质中利用物体的米勒矩阵进行目标识别的技术。米勒矩阵的16个矩阵元可以完整地描述物体的偏振信息,基于各物体不同的偏振特性,不同物体有不同的米勒矩阵。可以以物体退偏特性因子Δ或其中一米勒矩阵元作为灰度值得到一幅图像,利用图像的均值、标准差、信息熵和方差对图像进行评价。实验结果表明这种方法能够较大地提高成像质量。
叶志杰柳逢春安鹏莉李代林
关键词:米勒矩阵
取向比对随机取向的六角形冰晶粒子米勒矩阵的影响被引量:1
2010年
利用离散偶极子近似方法对随机取向的六角形冰晶粒子的米勒矩阵进行了数值计算,给出了各个米勒矩阵元素的角分布曲线,探讨了随机取向的六角形冰晶粒子的取向比对其米勒矩阵的影响。研究表明,随机取向的六角形冰晶粒子的取向比对其米勒矩阵元素的影响在一定散射角范围内均相当大,并随着粒子尺度参数的变化而变化;此外,相同尺度参量、不同取向比粒子的米勒矩阵元素的角分布曲线均有一个交点,并且随着粒子尺度参量的增加,交点所对应的散射角度值逐渐向小角度方向移动。
类成新
关键词:大气光学米勒矩阵
根据完全米勒矩阵测量值确定液晶单元参数的方法和装置
本发明涉及根据完全米勒矩阵测量值确定液晶单元参数的方法和装置。本发明公开了一种用于测试LCD板的方法和装置。可以将受测LCD板(30)安装到偏振态发生器(10)与偏振态分析器(16)之间的可平移的台面(40)上。对于受测...
M·H·史密斯
根据完全米勒矩阵测量值确定液晶单元参数的方法和装置
本发明公开了一种用于测试LCD板的方法和装置。可以将受测LCD板(30)安装到偏振态发生器(10)与偏振态分析器(16)之间的可平移的台面(40)上。对于受测单元(30)上的每个位置,多种已知的偏振态(22)被发射穿过L...
M·H·史密斯
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相关作者

王向朝
作品数:828被引量:1,367H指数:19
供职机构:中国科学院上海光学精密机械研究所
研究主题:光刻机 投影物镜 波像差 干涉仪 掩模
曹绍谦
作品数:13被引量:24H指数:3
供职机构:中国科学院上海光学精密机械研究所
研究主题:斯托克斯参量 偏振 光场 全光 偏振态
周军
作品数:676被引量:2,058H指数:25
供职机构:中国科学院
研究主题:双包层光纤 光纤激光器 激光雷达 激光器 光纤
杨之文
作品数:3被引量:72H指数:3
供职机构:中国科学院上海技术物理研究所
研究主题:偏振遥感 偏振光谱 米勒矩阵 偏振度 光学测量
曾爱军
作品数:228被引量:260H指数:11
供职机构:中国科学院上海光学精密机械研究所
研究主题:起偏器 光刻机 移相 测量方法 偏振